[发明专利]一种密封标样的无损检测在审
| 申请号： | 201911055129.1 | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN110749567A | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 付乐伟 | 申请（专利权）人： | 武汉信正检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/359 | 分类号： | G01N21/359 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于密封标样的无损检测领域，尤其涉及一种密封标样的无损检测，利用近红外光谱来分析检测样品的内在品质信息，具有通用性和普遍性，且不需要传统的破坏性的检测，不对样品造成破坏，高效方便，不污染环境，该方法具有高度的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 无损检测 标样 密封 近红外光谱 分析检测 内在品质 传统的 检测 | ||
【主权项】：
1.一种密封标样的无损检测，其特征在于，利用近红外光谱来分析检测样品的内在品质信息，所述近红外光谱分析的检测分为透射光谱和反射光谱，所述透射光谱包括两种方式透射和浸透射，所述透射光谱使用近红外光源照射待测样品获取该样品的成分信息，所述浸透射是从标样表面反射，没有进入样品和颗粒的内部，以测量我们所需的检测信息。/n
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