[发明专利]元数据校验方法、装置、可读存储介质和电子设备在审

专利信息
申请号: 201911026270.9 申请日: 2019-10-25
公开(公告)号: CN110851539A 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: 姜华;牟晓光;张霞;黄治纲 申请(专利权)人: 东软集团股份有限公司
主分类号: G06F16/28 分类号: G06F16/28;G06F16/21;G06F16/22
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 本公开涉及一种元数据校验方法、装置、可读存储介质和电子设备,所述方法包括:对元数据仓库中的元数据进行扫描,获得待校验的目标元数据;确定与所述目标元数据对应的目标校验规则;根据所述目标校验规则对所述目标元数据进行校验,以获得校验结果,其中,所述校验结果用于表示所述目标元数据是否异常。因此,可以对元数据仓库中的元数据进行校验,从而可以及时、准确地发现元数据仓库中异常的元数据,为确定数据库及数据表的准确性提供数据支持。同时,也可以有效保证保证业务系统中数据同步和数据迁移的效率和安全性,有效降低业务系统出现错误的风险,保证业务系统的安全性。
搜索关键词: 数据 校验 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备
【主权项】:
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