[发明专利]使用单颗粒电感耦合等离子体质谱(SP-ICP-MS)自动检测纳米颗粒在审
| 申请号： | 201911023526.0 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN111105979A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 板垣隆之;S·威尔伯;山中理子 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/02;G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 罗天乐 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过单颗粒电感耦合等离子体质谱(spICP‑MS)分析样品中诸如纳米颗粒的颗粒。在ICP‑MS系统中处理所述样品以获取对应于离子信号强度与时间的关系的时间扫描数据。从所述时间扫描数据确定信号分布，所述信号分布对应于离子信号强度和测量所述离子信号强度时的频率。将颗粒检测阈确定为所述信号分布的离子信号部分与颗粒信号部分的交点。所述颗粒信号部分对应于所述样品中颗粒的测量，并且所述离子信号部分对应于所述样品中除颗粒之外的组分的测量。所述颗粒检测阈将所述颗粒信号部分与所述离子信号部分分离并且可用于确定关于所述颗粒的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 颗粒 电感 耦合 等离子 体质 sp icp ms 自动检测 纳米 | ||
【主权项】：
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