[发明专利]一种使用两副相同待测天线的复数交叉极化比的测量方法有效
| 申请号： | 201911022878.4 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN110850187B | 公开（公告）日： | 2020-11-03 |
| 发明（设计）人： | 李顺礼;张遒逸;赵洪新 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 211102 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 使用两副相同待测天线的复数交叉极化比的测量方法涉及一种天线交叉极化比的测量方法，使用了结构和性能完全相同的第一待测天线(10)和第二待测天线(11)，测量仪器(20)和线缆(21)。测试在微波暗室(3)中进行。将第一待测天线(10)和第二待测天线(11)安装在远场区内；测量仪器(20)经线缆(21)连接到第一待测天线和第二待测天线，其中第二待测天线作为接收天线，在极化匹配以及极化正交时采集得到复数衰减因子，并以此计算第二待测天线的复数交叉极化比；再以待测天线，为接收天线，测得第一待测天线的复数交叉极化比，取均值得到复数交叉极化比的测量值。该方法省去了参考天线简化了测量，同时多次测量减小了环境带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 相同 天线 复数 交叉 极化 测量方法 | ||
【主权项】：
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