[发明专利]一种基于光纤位移传感器的阵列孔通孔率测量方法有效
| 申请号： | 201911011061.7 | 申请日： | 2019-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN110657752B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 朱绪胜;申皓;刘蕾 | 申请（专利权）人： | 成都飞机工业（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/14 | 分类号： | G01B11/14;G01B11/22 |
| 代理公司： | 成都君合集专利代理事务所(普通合伙) 51228 | 代理人： | 张鸣洁 |
| 地址： | 610092 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光纤位移传感器的阵列孔通孔率测量方法，通过数控设备驱动光纤位移传感器距零件表面恒定距离移动，移动轨迹通过待测孔轴线，从而判断是否为通孔、非孔、盲孔中任意一种；并绘制光纤传感器输出的距离‑位移关系图，结合该图计算通孔率。本发明的有益效果是：本发明主要用于密集、大量阵列孔的通孔率测量，自动化程度高、测量效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光纤 位移 传感器 阵列 孔通孔率 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于光纤位移传感器的阵列孔通空率测量方法，其特征在于：通过数控设备驱动光纤位移传感器距零件表面恒定距离移动，移动轨迹通过待测孔轴线，从而判断是否为通孔、非孔、盲孔中任意一种；并绘制光纤传感器输出的距离-位移关系图，结合该图计算通孔率。/n
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