[发明专利]一种硅基OLED面板点亮检查方法在审
申请号: | 201911007019.8 | 申请日: | 2019-10-22 |
公开(公告)号: | CN110579492A | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | 朱志飞 | 申请(专利权)人: | 苏州精濑光电有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/956;G01N21/01;G01M11/02 |
代理公司: | 32299 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 陈瑞泷 |
地址: | 215100 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及一种硅基OLED面板点亮检查方法,包括步骤:S1:提供一种硅基OLED面板点亮检查装置,包含外罩,以及设置于所述外罩内的吸附台、探针卡匣、压接工作台和探针取放机构;S2:加载硅基OLED面板于所述吸附台上;S3:纯化外罩内的惰性气体,使得所述外罩形成充满惰性气体的密闭腔体;S4:驱动所述吸附台移动至所述压接工作台并完成压接和点灯检测。本发明能够实现全过程自动化地对硅基OLED进行检查;具有可替换的探针组,对不同型号的硅基OLED进行检查,具有广泛的通用性。 | ||
搜索关键词: | 硅基 外罩 压接 惰性气体 吸附台 工作台 点亮检查装置 点亮检查 密闭腔体 取放机构 可替换 探针卡 探针组 点灯 加载 探针 吸附 检查 自动化 驱动 检测 移动 申请 | ||
【主权项】:
1.一种硅基OLED面板点亮检查方法,其特征在于,包括步骤:/nS1:提供一种硅基OLED面板点亮检查装置,包含外罩(1),以及设置于所述外罩(1)内的吸附台(2)、探针卡匣(3)、压接工作台(4)和探针取放机构(5);/nS2:加载硅基OLED面板于所述吸附台(2)上;/nS3:纯化外罩(1)内的惰性气体,使得所述外罩(1)形成充满惰性气体的密闭腔体;/nS4:驱动所述吸附台(2)移动至所述压接工作台(4)并完成压接和点灯检测。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州精濑光电有限公司,未经苏州精濑光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911007019.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种建筑渗水检测方法
- 下一篇:一种容器视觉检测方法