[发明专利]一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法在审
| 申请号： | 201910912443.0 | 申请日： | 2019-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN110579458A | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 薛占强;郭翠;潘奕 | 申请（专利权）人： | 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;深圳市太赫兹系统设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01J3/44 |
| 代理公司： | 44414 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李海宝 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本发明通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光光谱 待测材料 测试装置 激发光源 角度调节机构 激发光束 激光束 入射角 预设 荧光光谱技术 测试领域 角度分布 控制指令 同步旋转 旋转结构 波长 入射 测试 激发 检测 分析 | ||
【主权项】：
1.一种荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，所述荧光光谱的测试装置包括：/n激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，所述激发光源用于生成预设波长的激发光束，所述激发光束以预设的入射角度入射所述待测材料表面，所述角度调节机构用于调节所述入射角度的值；/n旋转结构，用于固定所述待测材料，并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转；以及/n检测结构，用于接收所述待测材料生成的受激光束，并根据所述受激光束得到对应的荧光光谱；/n其中，所述检测结构在所述待测材料和所述激发光源进行同步旋转的过程中从所述待测材料的不同位置接收所述受激光束。/n
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