[发明专利]一种集成芯片的引脚连通性的检测方法在审
申请号: | 201910872064.3 | 申请日: | 2019-09-16 |
公开(公告)号: | CN110579701A | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | 郭宇程;孙顺清;廖泽雄;黄珂明;邓海东 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 31272 上海申新律师事务所 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种集成芯片的引脚连通性的检测方法,步骤S1、提供一集成芯片,集成芯片提供一通用输入输出接口;步骤S2、提供一终端设备,终端设备提供一输出引脚,输出引脚与通用输入输出接口一一对应连接;步骤S3、通过切换通用输入输出接口的高低电平状态,检测输出引脚的电平状态,以判断集成芯片与终端设备的线路连接关系。有益效果:检测集成芯片的外围电路的引脚连通性,减少硬件的操作难度,观察方便,测试结果准确,进一步提高了调试进度。 | ||
搜索关键词: | 集成芯片 通用输入输出接口 输出引脚 终端设备 连通性 引脚 高低电平状态 集成电路技术 线路连接关系 电平状态 检测集成 外围电路 检测 调试 芯片 进度 观察 | ||
【主权项】:
1.一种集成芯片的引脚连通性的检测方法,其特征在于,包括:/n步骤S1、提供一集成芯片,所述集成芯片提供一通用输入输出接口;/n步骤S2、提供一终端设备,所述终端设备提供一输出引脚,所述输出引脚与所述通用输入输出接口一一对应连接;/n步骤S3、通过切换所述通用输入输出接口的高低电平状态,检测所述输出引脚的电平状态,以判断所述集成芯片与所述终端设备的线路连接关系。/n
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