[发明专利]一种测试向量的无损压缩和解压缩方法有效
| 申请号： | 201910871722.7 | 申请日： | 2019-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN110719105B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 陈廷 | 申请（专利权）人： | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M7/30 | 分类号： | H03M7/30 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 陶金龙;马盼 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试向量的无损压缩方法，包括如下步骤：S01：将测试向量转换为A行B列的数据流，所述数据流采用二进制表示；S02：依次对数据流进行逐列压缩，形成每一列数据对应的压缩字和非压缩字；具体对每一列数据进行压缩方法为：设置宽度为1bit深度为M行的窗口，将窗口从该列数据的顶部开始逐行向下滑行，依次形成每一列的压缩字和非压缩字；S03：将每一列数据的压缩数据进行汇合，形成压缩数据流。本发明提供一种测试向量的无损压缩和解压缩方法，压缩方法简单快速，可适用于ATE测试领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 向量 无损 压缩 和解 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试向量的无损压缩方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS01：将测试向量转换为A行B列的数据流，所述数据流采用二进制表示；其中每一列表示一个测试通道在不同时刻的测试数据；每一行表示不同测试通道在同一时刻的测试数据；A和B为大于1的整数；/nS02：依次对数据流进行逐列压缩，形成每一列数据对应的压缩字和非压缩字；具体对每一列数据进行压缩方法为：/nS021：设置宽度为1bit深度为M行的窗口，将窗口从该列数据的顶部开始逐行向下滑行，当窗口中添加M-1bit数据时，/n若M-1bit数据中既有0又有1，则不进行压缩，形成Mbit的非压缩字，其中，所述非压缩字中第M-1bit表示压缩标记，第M-2至第0bit表示窗口中对应的M-1bit数据；/n若M-1bit数据中只有0或者1，则进行压缩，并且窗口继续逐行向下滑行，直至窗口中最新添加数据与窗口中其他行数据不同或者滑行至该列底部，形成Mbit的压缩字，其中，所述压缩字中第M-1bit表示压缩标记，第M-2bit表示压缩字符，第M-3至第1bit表示M-1bit数据中压缩字符的个数cnt；第0bit表示窗口中最新添加数据的尾数；/nS022：形成压缩字或者非压缩字之后，所述窗口滑行至该列数据中未处理的行位置，重复步骤S021，直至窗口滑行至该列数据的底部，得到该列数据的压缩数据；M为大于2小于A的正整数；/nS03：将每一列数据的压缩数据进行汇合，形成压缩数据流。/n
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