[发明专利]氧分析仪的校准方法有效
| 申请号： | 201910870061.6 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110568049B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 尹卫;贾铁军;向蓝翔;丛中斗;高会玲 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416;G01N27/409 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张成新 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种氧分析仪的校准方法，该校准方法包括以下步骤：S1.在氧分析仪的壳体上设置第一校准电位器和第二校准电位器；S2.在氧分析仪的保护外壳上设置第一操作机构和第二操作机构，使得第一操作机构对第一校准电位器进行操作，第二操作机构对第二校准电位器进行操作；S3.通过操作第一操作机构对氧分析仪进行空气校准；以及S4.通过操作第二操作机构对氧分析仪进行标准气校准。该方法无需打开氧分析仪的保护外壳即可进行校准操作，大大简化了校准的操作程序，提高了校准效率。由于采用了机械电位器校准，无需在软件设计时进行相关程序的编写，因此大大节省了软件设计成本。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 校准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种氧分析仪的校准方法，包括以下步骤：/nS1.在氧分析仪的壳体上设置第一校准电位器和第二校准电位器；/nS2.在所述氧分析仪的保护外壳上设置第一操作机构和第二操作机构，使得所述第一操作机构对所述第一校准电位器进行操作，所述第二操作机构对所述第二校准电位器进行操作；/nS3.通过操作所述第一操作机构对所述氧分析仪进行空气校准；以及/nS4.通过操作所述第二操作机构对所述氧分析仪进行标准气校准。/n
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