[发明专利]用于电离样品的质谱分析探针和系统有效

专利信息
申请号: 201910835375.2 申请日: 2014-12-22
公开(公告)号: CN110648894B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 罗伯特·格雷厄姆·库克斯;D·萨卡尔;塔拉皮·普拉迪普;R·玛拉亚南 申请(专利权)人: 普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校
主分类号: H01J49/00 分类号: H01J49/00;H01J49/04;H01J49/16
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 美国印*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中,本发明提供一种质谱分析探针,其包括衬底,其中该衬底的一部分涂布有一种材料,其一部分从该衬底突出。
搜索关键词: 用于 电离 样品 谱分析 探针 系统
【主权项】:
1.一种分析样品的方法,该方法包括:/n提供一种质谱分析探针,所述质谱分析探针包含纸质衬底,其中所述纸质衬底的一部分以多个纳米级特征从所述纸质衬底突出的方式涂布有一种非样品或溶剂的导电材料,所述多个纳米级特征经配置充当为多个电极,并且在通过应用3伏特或更小的电压时,以在不会导致分析物断裂的电压下提供足够高的场强度以在所述多个纳米级特征经处产生微米级溶液液滴的场致发射;/n将所述质谱分析探针连接到电压源,其中所述电压源经配置以产生3伏特或更小的电压;/n使所述质谱分析探针与所述样品接触;/n电离与所述质谱分析探针接触的所述样品;以及/n在所述质谱仪中分析所述样品。/n
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