[发明专利]一种I/F变换电路板的温度补偿方法

摘要

本发明公开了一种I/F变换电路板的温度补偿方法，使得I/F变换电路板的输入电流通过电流/电压转换以及滤波电路后进入一片高精度A/D芯片采集并转换成数字量，此数字量就对应了当前输入的电流值；数字量进入误差校正电路，结合当前模块温度信息获得校正后的数值，消除零偏、温漂和非线性误差，再送至直接频率合成式脉冲生成电路产生所需的频率脉冲，其中A/D芯片采用逐次逼近或∑‑Δ型架构，量化位数达到16bit以上。本发明具有的优点是不需要依靠外部恒温措施提高温度稳定性。

主权项

1.一种I/F变换电路板的温度补偿方法，其特征在于，该I/F变换电路板上分别连接有电源电路和ADC测量模块，所述ADC测量模块通过加法器电路连接有数字补偿模块、所述数字补偿模块通过脉冲生成电路与DDS频率合成模块合成有固定宽度的频率脉冲，其中所述ADC测量模块和DDS频率合成模块由温补晶振时钟源驱动；其温度补偿的具体步骤如下：/n(1)采用ADC测量模块和数字补偿模块将I/F变换电路板的输入电流转换成频率控制字；其具体过程包括：/n(1-1)将I/F变换电路板的输入电流的电流X、电流Y、电流Z转换为积分电压；所述ADC测量模块包括ADC芯片、以及分别与ADC芯片连接的输入调理电路、测温电路；所述输入调理电路是由I/V转换电路、开关积分滤波电路两部分级联而成；其中所述I/F变换电路板的输入电流分为电流X、电流Y及电流Z，所述I/V转换电路将电流X、电流Y、电流Z分别转换得到的电压信号输送到开关积分滤波电路内，所述开关积分滤波电路在逻辑节拍的控制下对每个ADC芯片采样时隙内的电压信号进行短时积分，以将所得积分电压送给ADC芯片采集；/n(1-2)采集表征I/F变换电路板温度值的数字量；所述测温电路是由固定电阻与热敏电阻串联而成，对其VCC和GND取点，以使所述固定电阻和热敏电阻形成分压，并将所述固定电阻两端电压馈入步骤S1中ADC芯片的差分参考电压输入端作为ADC芯片的参考电压；将热敏电阻两端电压馈入步骤S1中ADC芯片的差分输入端进行采集，以得到ADC芯片采样的温度值；其中所述热敏电阻为线性正温度系数PT1000热敏电阻；/n(1-3)采用数字补偿模块对步骤S1采集的积分电压、步骤S2采集的温度值数字量进行误差修正；所述数字补偿模块采用的是数字校正电路，其中数字校正电路包括供步骤S1和步骤S2采集数据输入的误差校正表格、输出修正后数据的异步Flash芯片，其中所述误差校正表格具有2个输入量和1个输出量，其中2个输入量分别为电流数据和温度数据，输出量为误差修正量；而所述异步Flash芯片将误差修正量输出，并将误差修正量与步骤S1、步骤S2采集的数据通过加法器电路累加得到频率控制字；/n(2)将频率控制字送至DDS频率合成模块产生频率脉冲，具体过程如下：/n(2-1)DDS频率合成模块内置有DAC转换器和电压比较器，所述DAC转换器产生的正弦信号反馈回电压比较器得到方波频率信号输出；/n(2-2)方波频率信号进入脉冲生成电路，与频率控制字中的极性标志一起产生分别与电流X、电流Y、电流Z成正比的±脉冲X、±脉冲Y、±脉冲Z的频率脉冲。/n