[发明专利]电子元器件的参数校验方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910802804.6 | 申请日： | 2019-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN110502384B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 林玉虹;施海昕;秦国君;刘云锋 | 申请（专利权）人： | 云汉芯城(上海)互联网科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 薛娇 |
| 地址： | 201612 上海市徐汇区漕河泾开*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元器件的参数校验方法，包括在参数信息库中选定同厂牌同类型同系列器件对应的器件信息；调用同厂牌同类型同系列器件对应的规格说明书；将器件信息中每种型号器件的关键参数信息，和规格说明书中的对应型号器件的标准参数信息进行对比校验；按照相同的方式将参数信息库各个同厂牌同类型同系列器件对应的器件信息进行依次校验。本申请中参数校验方法自动实现参数信息库中所有器件信息的校验，过程简单易于实现，无需过多的人为参与，在保证校验结果的准确性的基础上，有利于提升用户对电子元器件的使用体验。本发明中还提供了一种电子元器件的参数校验装置、设备以及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 参数 校验 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种电子元器件的参数校验方法，其特征在于，包括：/n在参数信息库中选定同厂牌同类型同系列器件对应的器件信息；/n调用所述同厂牌同类型同系列器件对应的规格说明书；/n将所述器件信息中每种型号器件的关键参数信息，和所述规格说明书中的对应型号器件的标准参数信息进行对比校验；/n判断所述参数信息库中的所有器件信息是否全部校验完成，若否，在所述参数信息库中未校验的器件信息中，选定同厂牌同类型同系列器件对应的器件信息进行校验。/n
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