[发明专利]双光子光片显微成像方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910731006.9 申请日: 2019-08-08
公开(公告)号: CN110470640B 公开(公告)日: 2021-04-27
发明(设计)人: 孔令杰;张亿;季向阳;戴琼海 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 王艳斌
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种双光子光片显微成像方法及装置,其中,该方法包括:在预先搭建的成像装置中,利用超短脉冲激光光源产生超短脉冲激光;通过第一4f系统对超短脉冲激光进行扩束,并利用柱透镜生成聚焦线;聚焦线通过分束镜到达第二4f系统中的第一透镜,再经扫描振镜到达第二4f系统的第二透镜,在空间光调制器表面形成聚焦线;通过空间光调制器对聚焦线进行相位调制,并反射传播,经第二4f系统和分束镜到达第三4f系统与激发物镜,在样本上形成调制后的聚焦线使得样本激发出荧光信号;对荧光信号进行采集以对样本进行光片显微成像。该方法通过快速访问空间光调制器上的调制相位,实现快速成像,提高成像速度与成像效率。
搜索关键词: 光子 显微 成像 方法 装置
【主权项】:
1.一种双光子光片显微成像方法,其特征在于,包括以下步骤:/n在预先搭建的成像装置中,利用超短脉冲激光光源产生超短脉冲激光;/n通过第一4f系统对所述超短脉冲激光进行扩束,并利用柱透镜生成聚焦线;/n所述聚焦线通过分束镜到达第二4f系统中的第一透镜,再经扫描振镜到达第二4f系统的第二透镜,在空间光调制器表面形成所述聚焦线;/n通过所述空间光调制器对所述聚焦线进行相位调制,并反射传播,经所述第二4f系统和所述分束镜到达第三4f系统与激发物镜,在样本上形成调制后的聚焦线以使得所述样本激发出荧光信号;/n对所述荧光信号进行采集以对所述样本进行光片显微成像。/n
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