[发明专利]一种仪表性能响应时间的测试方法在审
| 申请号： | 201910703627.6 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN110412379A | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | 李梓波;黄振娟;陈文;莫玉琴 | 申请（专利权）人： | 惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/44;G01D18/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 叶新平 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及仪表测试方法技术领域，尤其涉及一种仪表性能响应时间的测试方法，包括以下步骤：获取测试信号输入到仪表的时间；分别获取仪表待测试功能产生响应所需的时间；通过计算信号输入仪表的时间与产生响应所需的时间之间的差值，获得待测试功能的性能响应时间。本发明的发明目的在于提供一种仪表性能响应时间的测试方法，采用本发明提供的技术方案解决了现有仪表采用人眼测试无法对产品的性能响应做出准确判断的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 性能响应 仪表 测试 测试功能 测试信号 方案解决 计算信号 现有仪表 仪表测试 响应 人眼 | ||
【主权项】：
1.一种仪表性能响应时间的测试方法，其特征在于：包括以下步骤：S100、获取测试信号输入到仪表的时间；S200、分别获取仪表待测试功能产生响应所需的时间；S300、通过计算信号输入仪表的时间与产生响应所需的时间之间的差值，获得待测试功能的性能响应时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司，未经惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910703627.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：目标物体检测方法及装置
- 下一篇：一种基于图形化MOSFET驱动器的测试方法
