[发明专利]一种新型集成电路检测装置

摘要

本发明涉及集成电路检测技术领域，且公开了一种新型集成电路检测装置，包括底座，所述检测电笔的内部固定连接有激光灯，底座的里侧固连接有限位挡板，检测电笔的下部内侧滑动连接有轻质环柱，轻质环柱的下端连接有弧形金属片，检测电笔的内部下端连接有第二弹簧，第二弹簧的右侧且安装在检测电笔上固定连接有金属柱。通过矩形金属片接触到第一金属板时，代表着弧形金属片已经接触到待测点，由于轻质环柱属于轻质物体且第二弹簧为弹性指数较小的弹簧，所以对待测点的磨损和压力较小，当第二金属板接触到金属柱时，控制面板接收到电信号控制微型电机停止移动，然后通过观察检测电笔上的数据来判断待测集成电路板是否损坏。

主权项

1.一种新型集成电路检测装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的上表面固定连接有软质支架(2)，底座(1)的左右两侧均固定连接有侧固定板(3)，侧固定板(3)的里侧均固定连接有第一弹簧(4)，第一弹簧(4)另一端均固定连接有固定板(5)，底座(1)左右两侧且在侧固定板(3)的外侧均滑动连接有侧滑动板(6)，侧滑动板(6)的外侧均固定连接有微型电机(7)，微型电机(7)的上端均固定连接有螺纹丝杆(8)，螺纹丝杆(8)的外侧均螺纹连接有上移动板(9)，上移动板(9)上滑动连接有检测电笔(10)，检测电笔(10)的外侧且在上移动板(9)的上方设置有松紧螺母(11)，检测电笔(10)的上端固定连接有线缆(12)，检测电笔(10)的内部固定连接有激光灯(13)，底座(1)的里侧固定连接有限位挡板(14)，检测电笔(10)的下部内侧滑动连接有轻质环柱(15)，轻质环柱(15)的下端固定连接有弧形金属片(16)，检测电笔(10)的内部下端左侧固定连接有第二弹簧(17)，第二弹簧(17)的右侧且安装在检测电笔(10)上固定连接有金属柱(18)。