[发明专利]多发光样品发光强度的测量系统及方法在审
| 申请号： | 201910610011.4 | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN110208254A | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 高琛;何潭;陈根;鲍骏 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/76 | 分类号： | G01N21/76;G01J1/40;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张静 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多样品发光强度的测量系统及方法，本发明技术方案基于光纤束对多个发光样品的发光强度进行快速测量，能够同时高效率地采集大量微弱发光信号，便于实现快速分析处理，同时也兼具成本低、制作简单和使用范围广的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测量系统 发光样品 快速测量 快速分析 多样品 高效率 光纤束 发光 采集 制作 | ||
【主权项】：
1.一种多样品发光强度的测量系统，其特征在于，所述测量系统包括：样品盒，所述样品盒用于放置多个阵列排布的发光样品；光纤束，所述光纤束包括多个与所述发光样品一一对应的光纤子束；其中，所述光纤子束一端与所对应的发光样品相对设置，另一端耦合到CCD相机；所述光纤子束作为采集单元，用于采集所对应的发光样品的光强信息，所述CCD相机用于基于所述光强信息成像。
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