[发明专利]剔除灰尘影响的镜面物体表面二维缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 201910558705.8 | 申请日： | 2019-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN110186937A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 岳慧敏;方宇耀;黄易杨;宋一平;刘永;敖明武 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种剔除灰尘影响的镜面物体表面缺陷检测方法及系统；本发明在传统基于调制度分析原理的斜投斜拍式检测系统中引入均匀照明光源模块，基于散射原理，实现了识别镜面物体的表面灰尘信息，故而通过与缺陷及灰尘分布信息图对比分析，即得到剔除灰尘影响的待测镜面物体表面二维缺陷信息。本发明检测系统，结构紧凑，克服了传统检测需要大量人工检测的局限性；避免了复杂的标定过程，也无需积分重建待测物体的高度信息，避免了积分算法带来的误差；同时，解决了传统基于调制度原理的检测系统存在点缺陷与灰尘点难以区分的问题；因此本发明检测系统和检测方法具有准确，简单，快捷和实用的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 检测系统 镜面物体 灰尘影响 剔除 二维缺陷 调制度 表面缺陷检测 灰尘分布信息 均匀照明光源 标定过程 表面灰尘 传统检测 待测物体 对比分析 高度信息 积分算法 人工检测 散射原理 点缺陷 检测 拍式 引入 重建 分析 | ||
【主权项】：
1.一种剔除灰尘影响的镜面物体表面二维缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在待测镜面物体表面倾斜方向入射编码结构光，并采集经待测镜面物体表面调制后的变形结构光图像；S2、在待测镜面物体表面平行方向入射均匀照明光，并采集经待测镜面物体表面灰尘散射后的散射光图像；S3、对步骤S1获取的变形结构光图像进行处理，得到待测镜面物体表面的灰尘及缺陷分布信息图；S4、对步骤S2获取的散射光图像进行处理，得到待测镜面物体表面的灰尘分布信息图；S5、根据步骤S4得到的灰尘分布信息图对步骤S3得到的灰尘及缺陷分布信息图进行剔除处理，得到剔除灰尘影响的待测镜面物体表面二维缺陷信息图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910558705.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：膜的制造方法和膜卷绕装置
- 下一篇：双面缺陷分析设备及缺陷检测和分析系统
