[发明专利]一种性能测试方法、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910556848.5 | 申请日： | 2019-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN110287077B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 郝心;闫亚闯 | 申请（专利权）人： | 北京金山安全软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种性能测试方法、电子设备及存储介质，用于解决通过测试缓存的性能来确定硬盘的性能，以致降低了硬盘性能测试的准确性的问题，该方法应用于设置有硬盘的电子设备，硬盘包括缓存和物理存储介质，包括：确定通过缓存对物理存储介质的读写速度得到第一读写速度；根据第一读写速度确定硬盘对应用程序的读写速度；确定对物理存储介质的顺序写速度得到第一写速度；根据第一写速度确定硬盘的最大写速度；确定对物理存储介质的顺序读速度得到第一读速度；根据第一读速度确定硬盘的最大读速度；确定对物理存储介质的随机读写速度得到第二读写速度；根据第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。可以提高性能测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 测试 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种性能测试方法，其特征在于，所述方法应用于设置有硬盘的电子设备，所述硬盘包括缓存和物理存储介质，包括：确定通过所述缓存对所述物理存储介质的读写速度，得到第一读写速度；根据所述第一读写速度确定所述硬盘对应用程序的读写速度；确定对所述物理存储介质的顺序写速度，得到第一写速度；根据所述第一写速度确定所述硬盘的最大写速度；确定对所述物理存储介质的顺序读速度，得到第一读速度；根据所述第一读速度确定所述硬盘的最大读速度；确定对所述物理存储介质的随机读写速度，得到第二读写速度；根据所述第二读写速度确定文件系统分配地址和寻找地址的能力。
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