[发明专利]一种电致发光阵列基板的检测方法及装置有效
| 申请号： | 201910553348.6 | 申请日： | 2019-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN110288933B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 李广耀;王东方;刘军;程磊磊;苏同上;汪军;钱国平;黄先纯;张涛;沈忱;周玉喜 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 李欣 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电致发光阵列基板的检测方法及装置，通过控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区，相当于使驱动晶体管形成导线，以直接将阳极与第一电源信号端导通，从而使阳极上的电压可以稳定为第一电源信号端的电压，进而可以避免由于驱动晶体管的阈值电压Vth的漂移对阳极上电压的干扰。并且，通过对电致发光阵列基板进行光照，可以得到各子像素对应的第一检测数值。由于阳极上存在油污、颗粒等杂质时与阳极上不存在油污、颗粒等杂质时，穿过电致发光阵列基板的光强不同，这样使得第一检测数值也会不同，因此至少根据各子像素对应的第一检测数值，可以确定出电致发光阵列基板是否存在不良，以将不良检测出。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电致发光 阵列 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电致发光阵列基板的检测方法，其特征在于，所述电致发光阵列基板包括：衬底基板，位于所述衬底基板上的多个子像素，各所述子像素包括：像素驱动电路，位于所述像素驱动电路背离所述衬底基板一侧的绝缘层，以及位于所述绝缘层背离所述衬底基板一侧的阳极；所述检测方法包括：控制各子像素中的像素驱动电路的驱动晶体管工作于线性区；控制光源对所述电致发光阵列基板进行光照，采集透过所述电致发光阵列基板各所述子像素的光，并将采集到的光信号转换为各所述子像素对应的第一检测数值；至少根据各所述子像素对应的所述第一检测数值，确定所述电致发光阵列基板是否存在不良。
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