[发明专利]预对位装置和检测设备有效

专利信息
申请号: 201910546326.7 申请日: 2019-06-21
公开(公告)号: CN110271851B 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 邱裕恒;李楠;孔庆岚 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: B65G47/74 分类号: B65G47/74;B65G47/22
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 姜春咸;陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种预对位装置和检测设备。该预对位装置包括固定结构和预对位结构,预对位结构与固定结构活动连接,预对位结构在预对位状态下位于承载待测基板的载台台面上,预对位结构包括分别在相互垂直的第一方向和第二方向上对待测基板进行位置限定的挡板和挡块,在预对位状态下,挡板和/或挡块与载台台面为线接触,线接触部分位于挡板和/或挡块的与待测基板相接触的一端。该预对位装置,能够相对减少或消除挡板与载台台面以及挡块与载台台面接触位置的缝隙,使厚度较薄的待测基板在预对位过程中不容易插入至挡板与载台台面以及挡块与载台台面之间的缝隙中,从而有效提高了待测基板的预对位精度和手动上料效率,确保了待测基板测试的稳定进行。
搜索关键词: 对位 装置 检测 设备
【主权项】:
1.一种预对位装置,包括固定结构和预对位结构,所述预对位结构与所述固定结构活动连接,所述预对位结构在预对位状态下位于承载所述待测基板的载台台面上,所述预对位结构包括分别在相互垂直的第一方向和第二方向上对待测基板进行位置限定的挡板和挡块,其特征在于,在预对位状态下,所述挡板和/或所述挡块与所述载台台面为线接触,线接触部分位于所述挡板和/或所述挡块的与所述待测基板相接触的一端。
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