[发明专利]一种SMT芯片缺陷检测系统与方法在审
| 申请号： | 201910525361.0 | 申请日： | 2019-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN110333238A | 公开（公告）日： | 2019-10-15 |
| 发明（设计）人： | 费胜巍;范晞 | 申请（专利权）人： | 东华大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/02;G01B11/14;G01B11/30 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 翁若莹;王文颖 |
| 地址： | 201600 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SMT芯片缺陷检测系统与方法。所述系统包括环形LED光源，取像系统，图像处理系统及工控机。检测方法为：取像系统将获取的图像信号传递到图像处理系统中；图像处理系统对原始图像进行处理，提取出引脚图像，并测量出引脚的相关数据；将引脚的相关数据与标准值进行比对并判别；将引脚的相关数据以及判别结果以人机交互的形式直观显示输出检测结果。本发明实现了SMT芯片的视觉检测，降低了检测难度，改善检测工人的工作条件，提高了SMT芯片的检测效率和检测质量。 | ||
| 搜索关键词： | 图像处理系统 检测 引脚 缺陷检测系统 取像系统 环形LED光源 判别结果 人机交互 视觉检测 输出检测 图像信号 引脚图像 原始图像 直观显示 工控机 比对 测量 传递 | ||
【主权项】：
1.一种SMT芯片缺陷检测系统，其特征在于，包括：环形LED光源(1)，用于照射SMT芯片(5)；取像系统(2)，用于获取图像并将获取的图像信号(A)传递到图像处理系统(3)；图像处理系统(3)，用于对取像系统(2)获取的图像信号(A)进行处理；工控机(4)，用于将经过图像处理系统(3)处理后的图像信号(A)直观地以人机交互的形式输出。
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