[发明专利]一种非接触卡芯片测试装置、测试方法及非接触卡芯片

摘要

本申请公开了一种非接触卡芯片测试装置、测试方法及非接触卡芯片，该测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口，通用数字测试机台与接触式双向数字通信接口通信连接，射频信号发生器与射频接口通信连接。该方法包括：通过在非接触卡芯片上设置一接触式双向数字通信接口来设定测试信号的传输方式，通过射频接口将电源和时钟信号发送至非接触卡芯片；通过接触式双向数字通信接口传输基带信号至非接触卡芯片；非接触卡芯片通过解码和编码返回第二数据。非接触卡芯片中包括接触式双向数字通信接口，该接口用于传输基带信号。通过本申请，能够提高芯片测试效率，提高测试抗干扰能力以及降低测试成本。

主权项

1.一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口，所述通用数字测试机台用于控制所述射频信号发生器发送一定频率的载波，所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，用于传输基带信号，所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接，用于传输电源信号和时钟信号，所基带信号包括：命令、第一数据和第二数据，所述第一数据为通用数字测试机台发出的测试数据，所述第二数据为非接触卡芯片返回的测试数据。