[发明专利]一种用于材料表面声阻抗测量的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910464762.X 申请日: 2019-05-30
公开(公告)号: CN110082431A 公开(公告)日: 2019-08-02
发明(设计)人: 胡定玉;潘硕;张满迎;王涛 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01N29/09 分类号: G01N29/09;G01N29/22
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 丁云
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种用于材料表面声阻抗测量的方法及装置,其中方法包括:步骤S1:构建测量装置:在待测材料上方放置一个主动声源,在待测材料和主动声源之间区域贴近待测材料处布置传声器阵列;步骤S2:构建复等效源模型,确定复等效源面;步骤S3:利用传声器阵列采集声压信号,获得声压列向量矩阵,基于所述的复等效源模型和声压列向量矩阵获取复等效源的声源强度;步骤S4:根据获得的复等效源的声源强度重建待测材料表面的声压与质点振速;步骤S5:根据重建得到的声压与质点振速计算待测材料表面的法向声阻抗。与现有技术相比,本发明具有精度高、测量环境要求低、简易便携性好等优点。
搜索关键词: 待测材料 等效源 声源 声压 传声器阵列 声阻抗测量 质点振速 列向量 构建 矩阵 测量装置 环境要求 矩阵获取 声压信号 便携性 声阻抗 重建 法向 和声 测量 简易 采集
【主权项】:
1.一种用于材料表面声阻抗测量的方法,其特征在于,包括:步骤S1:构建测量装置:在待测材料上方放置一个主动声源,在待测材料和主动声源之间区域贴近待测材料处布置传声器阵列,所述的传声器阵列包括多个传声器探头,所述的传声器探头呈球状分布,每个传声器探头为一测量点;步骤S2:构建复等效源模型,确定复等效源面,所述的复等效源面为位于主动声源和传声器阵列之间的一平面,所述的复等效源面上有N个虚拟点声源;步骤S3:利用传声器阵列采集声压信号,获得声压列向量矩阵,基于所述的复等效源模型和声压列向量矩阵获取复等效源的声源强度;步骤S4:根据获得的复等效源的声源强度重建待测材料表面的声压与质点振速;步骤S5:根据重建得到的材料表面声压与质点振速,计算待测材料表面的法向声阻抗。
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