[发明专利]一种细长构件准静态全场变形测量装置及方法有效
| 申请号： | 201910452279.X | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110146029B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 赵健;付饶;王羽;张建忠;王志奇 | 申请（专利权）人： | 北京林业大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16;G01N3/08 |
| 代理公司： | 北京康思博达知识产权代理事务所(普通合伙) 11426 | 代理人： | 李国红;刘冬梅 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种细长构件准静态全场变形测量装置和方法，该装置包括摄像机构(1)和驱动机构(2)，其中，所述摄像机构(1)和驱动机构(2)均与细长构件(3)平行设置，所述摄像机构(1)在驱动机构(2)的作用下进行平移，以在多个位置采集细长构件(3)的图像，进而获得细长构件(3)的全景图像；所述方法包括采集细长构件变形前后的全景图像，比较分析后或得细长构件的应变场。本发明所述的测量装置结构简单，成本低廉，所述方法易于操作、图像精度高、测量效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 细长 构件 静态 全场 变形 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种细长构件准静态全场变形测量装置，其特征在于，所述装置包括摄像机构(1)和驱动机构(2)，其中，所述摄像机构(1)和驱动机构(2)均与细长构件(3)平行设置，所述摄像机构(1)在驱动机构(2)的作用下进行平移，以在多个位置采集细长构件(3)的图像，进而获得细长构件(3)的全景图像。
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