[发明专利]一种芯片外观检测设备

摘要

本发明公开了一种芯片外观检测设备。本发明的技术方案是：包括机架，机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构；引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴；字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区；下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块。本发明提供的方案自动化程度高且检测效率高。

主权项

1.一种芯片外观检测设备，包括机架，其特征在于：所述机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构，所述上料机构包括设置在机架上的支撑架，所述支撑架上设置有能够带动若干个堆叠设置的萃盘升降的升降模块以及能够夹紧或松开萃盘两边的阻挡模块，所述升降模块能够带动萃盘进入萃盘下方的双列输送带上，每一萃盘中阵列设置有多个待检测芯片；所述引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，所述可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴，所述双列输送带上设置有能够固定住萃盘的气爪；所述字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；所述挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与所述X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区，所述萃盘放置区包括良品放置盘、针脚不良放置盘以及字符不良放置盘；所述下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，所述萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块。