[发明专利]太赫兹成像检测装置

摘要

本发明提供一种太赫兹成像检测装置，该太赫兹成像检测装置包括：发射组件，分光镜，第一反射组件，第二反射组件，第一探测器以及第二探测器。其中，发射组件用于发射太赫兹光束；随后通过分光镜分为第一太赫兹子光束与第二太赫兹子光束；第一反射镜用于将所述第一太赫兹子光束进行反射后入射到待测物体上；第二反射镜用于将所述第二太赫兹子光束进行反射后入射到待测物体上；第一探测器用于接收穿透所述待测物体的第一太赫兹子光束；第二探测器用于接收穿透所述待测物体的第二太赫兹子光束。通过上述方式，本申请提供太赫兹成像检测装置能够从两个方向对待测物体进行成像，从而提高对待测物体的成像准确度。

主权项

1.一种太赫兹成像检测装置，其特征在于，所述太赫兹成像检测装置包括：发射组件，用于发射太赫兹光束；分光镜，用于将所述太赫兹光束分为第一太赫兹子光束与第二太赫兹子光束；第一反射镜，设置于所述第一太赫兹子光束的光路上，用于将所述第一太赫兹子光束进行反射以使得被反射的所述第一太赫兹子光束入射到待测物体上；第二反射镜，设置于所述第二太赫兹子光束的光路上，用于将所述第二太赫兹子光束进行反射以使得被反射的所述第二太赫兹子光束也入射到所述待测物体上；第一探测器，设置于被反射后的所述第一太赫兹子光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第一太赫兹子光束；第二探测器，设置于被反射后的所述第二太赫兹子光束的光路上，用于接收穿透所述待测物体的第二太赫兹子光束；其中，所述被反射后的第一太赫兹子光束的光路与被所述反射后的第二太赫兹子光束的光路不平行。