[发明专利]双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201910400605.2 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110031430A 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 赵宇;李泽仁;刘振清;蒙建华;赵榆霞;叶雁;李军;李生福;朱建华 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/01
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 钱成岑
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置及方法,该装置包括相干光源、干涉光路、第一光电探测器、第二光电探测器、采集卡和上位机,本发明通过干涉光路中的电子快门将整个测试过程分为周期的曝光过程与采集过程,曝光时双光束干涉光路中的两个光束均同时照射在体全息材料表面,采集时双光束干涉光路中只有一束光照射在体全息材料表面,光电探测器进行数据采集。本发明采用了与曝光过程中入射光束完全一致的入射光进行衍射测试,因此总能保证Bragg角度高精度匹配,不会受到安装不一致、材料收缩等因素的影响。由于测量所使用波长与记录波长一致,因此整个过程中只需要一台激光器,不需要探测波长避开吸收光谱区。
搜索关键词: 体全息 光电探测器 实时测试装置 双光束干涉 干涉光路 曝光过程 时分复用 双探测器 灵敏度 光路 采集 材料收缩 测试过程 电子快门 记录波长 入射光束 数据采集 探测波长 吸收光谱 相干光源 激光器 不一致 采集卡 光照射 入射光 上位机 波长 衍射 匹配 照射 避开 测量 测试 曝光 保证
【主权项】:
1.一种双探测器时分复用体全息材料灵敏度实时测试装置,其特征在于,包括相干光源、干涉光路、第一光电探测器、第二光电探测器、采集卡和上位机,其中:相干光源,用于提供具有一定相干性的相干光;干涉光路,将相干光源提供的相干光分成两束,再使这两束相干光在体全息材料所处位置发生干涉;第一光电探测器和第二光电探测器,用于对干涉光路中干涉后的光束进行强度探测;采集卡,用于采集第一光电探测器和第二光电探测器输出的电压信号并转换成数字信号;上位机,用于处理和存储采集卡得到的数字信号;所述干涉光路包括第一电子快门、第一半波片、偏振分光棱镜、第二电子快门和第二半波片,所述第一电子快门、第一半波片、偏振分光棱镜分别依次设置,所述第二电子快门和第二半波片分别设置于偏振分光棱镜的两个分光方向;所述相干光源提供的相干光依次通过第一电子快门、第一半波片和偏振分光棱镜后被分为两束,其中一束通过第二电子快门后照射到体全息材料上,另一束通过第二半波片后照射体全息材料上,然后两束相干光分别由第一光电探测器和第二光电探测器进行强度探测。
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