[发明专利]一种激光雷达低层消光系数廓线校正方法有效

专利信息
申请号: 201910378942.6 申请日: 2019-05-08
公开(公告)号: CN110109149B 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 卜令兵;朱首正 申请(专利权)人: 南京信息工程大学
主分类号: G01S17/95 分类号: G01S17/95;G01S7/497
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 210032 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种激光雷达低层消光系数廓线校正方法,先采用同时采用多轴差分吸收光谱仪与激光雷达分别测量出大气低层的气溶胶消光系数数据;然后分别对多轴差分吸收光谱仪与激光雷达所测量的气溶胶消光系数数据进行计算得到多轴差分吸收光谱仪测量的消光系数廓线数据、激光雷达测量的消光系数廓线数据;最后对多轴差分吸收光谱仪测量的消光系数廓线数据进行处理后作为多轴差分吸收光谱仪测量的大气消光系数廓线数据,对之前得到的激光雷达测量的消光系数廓线数据进行校正,得到校正后的激光雷达低层消光系数廓线。本发明具有方法简单、高效、能够减少低层消光廓线数据误差与减少测量成本等优点。
搜索关键词: 一种 激光雷达 低层 系数 校正 方法
【主权项】:
1.一种激光雷达低层消光系数廓线校正方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、同时采用多轴差分吸收光谱仪与激光雷达分别测量出大气低层的气溶胶消光系数数据;步骤2、分别对多轴差分吸收光谱仪与激光雷达所测量的气溶胶消光系数数据进行计算得到多轴差分吸收光谱仪测量的消光系数廓线数据、激光雷达测量的消光系数廓线数据;步骤3、对多轴差分吸收光谱仪测量的消光系数廓线数据进行处理后作为多轴差分吸收光谱仪测量的大气消光系数廓线数据,对步骤2中得到的激光雷达测量的消光系数廓线数据进行校正,得到校正后的激光雷达低层消光系数廓线。
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