[发明专利]一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法在审

专利信息
申请号: 201910368957.4 申请日: 2019-05-05
公开(公告)号: CN110031482A 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: 骆聪;袁春辉;杨鹏 申请(专利权)人: 苏州天准科技股份有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 王丽
地址: 215163 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法,其配置简单、检测方便,不仅瑕疵增强效果明显,且可实现面阵检测,待检玻璃样品通过成像模组成像,所得图像中的待检玻璃样品被结构光光源调制,进而获得调制度分布图和相位梯度分布图,通过调制度分布图和相位梯度分布图可实现增强各种玻璃内外部的瑕疵,从而实现了面阵探测,提高了瑕疵检测效率。
搜索关键词: 分布图 反射式结构 检测 玻璃样品 玻璃瑕疵 相位梯度 调制度 面阵 瑕疵 光照 结构光光源 瑕疵检测 成像 调制 探测 图像 玻璃 配置
【主权项】:
1.一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法,其特征在于:其包括如下步骤:S1、结构光光源设置于待检玻璃样品上方,所述结构光光源上的光强呈条纹分布,所述待检玻璃样品放置于运动扫描机构上;S2、成像模组安装于所述待检玻璃样品斜上方,调节所述成像模组的镜头,以使其对所述待检玻璃样品清晰成像;S3、所述结构光光源的结构光条纹沿法向平移,平移距离为所述结构光光源周期的1/N,N=3,4,5…;S4、所述成像模组对所述待检玻璃样品成像,所得图像中的所述待检玻璃样品被所述结构光光源调制,使得所述待检玻璃样品图像上出现明显的条纹结构;S5、重复N次所述步骤S3和S4,获得N幅调制后的待检玻璃样品图像,记图像为Ij(j=1,2,3,…N);随后根据获得的N幅图像计算出每个像素对应的调制度和相位梯度,获得调制度分布图和相位梯度分布图;S6、通过机器视觉算法或者深度学习算法,分析调制度分布图、相位梯度分布图和原始灰度图之间的特征形式,即可实现玻璃表面瑕疵的全类型检测。
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