[发明专利]一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法在审
| 申请号： | 201910364043.0 | 申请日： | 2019-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN110018131A | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 朱勇;杨婷婷;段飞;王璇;黄博崚;颜识涵;沈佳妮;李描;李岚森 | 申请（专利权）人： | 重庆市计量质量检测研究院;中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586;G01N21/3563;G01N21/41 |
| 代理公司： | 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 | 代理人： | 刘嘉 |
| 地址： | 400000*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及软玉检测技术领域，具体为一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法，包括以下步骤：S100：建立软玉产地鉴定模型；S200：制备待鉴定软玉样品；S300：测量待鉴定软玉样品的太赫兹时域光谱信号，计算待鉴定软玉样品的特征参数；S400：将待鉴定软玉样品的特征参数与软玉分类鉴定模型中的各个模型进行对比，得到鉴定结果。S100具体包括以下步骤：S101：制备不同产地的参考软玉样品；S102：测量参考软玉样品的太赫兹时域光谱信号，计算参考软玉样品的特征参数；S103：根据参考软玉样品的特征参数形成软玉产地鉴定模型。本发提供的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法，能够解决现有技术中无法准确检测软玉产地的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 软玉 太赫兹时域光谱 产地 特征参数 鉴定模型 参考 制备 测量 检测技术领域 鉴定结果 准确检测 分类 | ||
【主权项】：
1.一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法，其特征在于：包括以下步骤：S100：建立软玉产地鉴定模型；S200：制备待鉴定软玉样品；S300：测量待鉴定软玉样品的太赫兹时域光谱信号，计算待鉴定软玉样品的特征参数；S400：将待鉴定软玉样品的特征参数与软玉分类鉴定模型中的各个模型进行对比，得到鉴定结果。
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