[发明专利]用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法及系统有效

专利信息
申请号: 201910344328.8 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110045206B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 尹明铉;杨新超;成怀宁 申请(专利权)人: 紫光测控有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 天津市鼎和专利商标代理有限公司 12101 代理人: 蒙建军
地址: 300308 天津市滨海新区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法及系统,属于电力系统继电保护技术领域,通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证,进行模拟量采集回路的检测;其特征在于:至少包括如下步骤:步骤一:模拟量分组;步骤二:实际有效值计算;步骤三:合成采样值计算;步骤四:采样值偏差计算;步骤五:合成有效值计算;步骤六:有效值偏差计算;步骤七:模拟量异常判断。本发明应用于无双AD冗余配置的保护测控装置,为了实现对模拟量采集回路的检测,以提高继电保护运行的可靠性;通过采用上述技术方案,本发明能够对保护测控装置的模拟量采集回路实时检测,提高了继电保护运行的可靠性。
搜索关键词: 用于 保护 测控 装置 冗余 ad 采集 校验 方法 系统
【主权项】:
1.一种用于保护测控装置非冗余AD采集的冗余校验方法,通过对保护测控装置采集的模拟量和相关通道模拟量数据合成后比较验证,进行模拟量采集回路的检测;其特征在于:至少包括如下步骤:步骤一:模拟量分组;选取同一线路的三相电流和零序电流为一组,选取同一母线的三相电压和零序电压为一组,每组中的4路模拟量可互为检测;步骤二:实际有效值计算;根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值,分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的实虚部和实际有效值;步骤三:合成采样值计算;根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序原始采样值,分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成采样值;步骤四:采样值偏差计算;根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的原始采样值和合成采样值,分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的采样值偏差;该采样值偏差等于相应模拟量原始采样值和合成采样值之差的绝对值;步骤五:合成有效值计算;根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实虚部或合成采样值,分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的合成有效值;步骤六:有效值偏差计算;根据每组模拟量中的A相、B相、C相和零序的实际有效值和合成有效值,分别计算每组模拟量A相、B相、C相和零序的有效值偏差;该有效值偏差等于相应模拟量实际有效值和合成有效值之差的绝对值;步骤七:模拟量异常判断;设定采样值偏差阈值、采样值零点嵌位阈值,设定有效值偏差阈值、有效值零点嵌位阈值,对所有分组中的所有模拟量进行异常检测;当通过采样值偏差判断出模拟量异常,或通过有效值偏差判断出模拟量异常,则判定该模拟量异常。
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