[发明专利]一种垂直磁性源波数视电阻率测量方法与装置有效

专利信息
申请号: 201910337284.6 申请日: 2019-04-25
公开(公告)号: CN109917470B 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 汤井田;皇祥宇;肖晓;胡双贵 申请(专利权)人: 中南大学
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10;G01V3/38
代理公司: 长沙市融智专利事务所(普通合伙) 43114 代理人: 龚燕妮
地址: 410083 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种垂直磁性源波数视电阻率测量方法与装置,该方法通过在在地表铺设垂直磁性源并提供电流信号,以及在与垂直磁性源距离r处布设测点并采集切向电场和垂直磁场,并将切向电场和垂直磁场代入如下一元三次方程计算出参数x,再根据参数x计算出所述测点处频率对应的波数视电阻率、电磁场波数,并基于电磁场波数计算出相位。本发明提供的通过电场和磁场解析计算电磁波波数及相应的视电阻率方法,适合于任意频率和收发距,结果精确,具备在短收发距下探测地下深部电性结构的能力。
搜索关键词: 一种 垂直 磁性 源波数视 电阻率 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种垂直磁性源波数视电阻率测量方法,其特征在于:包括如下步骤:S1:在地表铺设垂直磁性源并提供电流信号,以及在与垂直磁性源距离r处布设测点并采集切向电场和垂直磁场;S2:将采集的切向电场和垂直磁场代入如下一元三次方程计算出参数x;‑bx3+(3a‑4b)x2+(9a‑9b+1)x+(9a‑9b+1)=0式中,a、b、c均为一元三次方程的系数,Eφ、Hz分别表示测点处采集的切向电场、垂直磁场,i为虚数单位,I为提供给垂直磁性源的发射电流,ds为发射线圈的面积,ω为角频率,等于2πf,f为频率,μ为真空磁导率;其中,选取具有测深曲线特性的根作为步骤S2中参数x的解;S3:基于步骤S2计算出的参数x计算出所述测点处频率对应的波数视电阻率、电磁场波数,并基于电磁场波数计算出相位;式中,ρa表示所述测点处频率对应的波数视电阻率,k表示电磁场波数,Z表示为复数的中间参数,φ表示相位,im(Z)表示中间参数Z的虚部,re(Z)表示中间参数Z的实部。
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