[发明专利]一种基于电磁场垂直分量的电阻率测量方法有效
申请号: | 201910334322.2 | 申请日: | 2019-04-24 |
公开(公告)号: | CN109917466B | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 严家斌 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01V3/08 | 分类号: | G01V3/08 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 何方 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于电磁场垂直分量的电阻率测量方法,属于地球科学和地球物理领域,本发明提供的基于电磁场垂直分量的电阻率测量方法,电磁场的垂直分量在垂直入射平面激励下,在边界的上下两侧会存在感应电荷导至电场的不连续引起场的垂向分量变化,这种变化仅呈现分界的上下两侧,因此能精确地反映了物体的上下边界位置。本发明提出的ρ |
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搜索关键词: | 一种 基于 电磁场 垂直 分量 电阻率 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于电磁场垂直分量的电阻率测量方法,包括以下步骤:(1)测量电场垂直分量Ez和磁场垂直分量Hz的时间序列;(2)计算给定频率下的垂直阻抗
(3)获得给定频率下的电阻率ρEH⊥:
式(1)中,针对一维、二维介质情况,M=1;针对三维介质情况,
其中,i为虚数单位,ω为角频率,μ为导磁率,Hx、Hy水平磁场,Ex、Ey为水平电场。
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