[发明专利]芯片管理方法和系统在审
| 申请号： | 201910323417.4 | 申请日： | 2019-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN110046284A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 刘宏志 | 申请（专利权）人： | 武汉耐普登科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/901 | 分类号： | G06F16/901;G06F16/903 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片管理方法和系统，将晶圆中的多个管芯分别与其对应的身份信息关联，在晶圆测试过程采集晶圆中的多个管芯的第一测试数据，在芯片测试过程采集芯片的第二测试数据，芯片内封装有相应的所述管芯，最后根据封装在芯片内的管芯的身份信息将第二测试数据与第一测试数据整合，得到追溯数据库，在失效分析时可以根据待分析芯片的身份信息查找追溯数据库得到该芯片的测试数据，通过在芯片测试数据追溯中设计标记信息，有利于节省了数据追溯时间和追溯成本，提高数据追溯的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试数据 管芯 身份信息 数据追溯 追溯 芯片管理 芯片 晶圆 数据库 芯片测试过程 标记信息 采集芯片 分析芯片 晶圆测试 失效分析 芯片测试 内封 整合 封装 采集 查找 关联 申请 | ||
【主权项】：
1.一种芯片管理方法，包括：将晶圆中的多个管芯分别与其对应的身份信息关联；在第一测试过程采集所述晶圆中的所述多个管芯的第一测试数据；在第二测试过程采集芯片的第二测试数据，所述芯片内封装有相应的所述管芯；以及根据封装在所述芯片内的所述管芯的所述身份信息，将所述第二测试数据与所述第一测试数据整合，以得到追溯数据库。
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