[发明专利]用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化

摘要

本发明涉及用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化，具体涉及一种用于自检荧光计的失效或性能恶化的系统和方法，包括安装在载体上以相对于一个或多个固定荧光计移动的荧光参考标准物。使用所述荧光计初始测量所述荧光参考标准物的荧光发射强度，并且在荧光计使用了一段规定时间后，使用荧光计测定荧光标准物的荧光发射强度的测试量值。将所述测试量值与所述初始量值相比较，并且基于所述测试量值与所述初始量值的偏差确定所述荧光计的失效或性能恶化。

主权项

1.一种用于监测动态环境中荧光计的性能的系统，所述系统包括：培养器，所述培养器限定受控温度壳体；容器载体，所述容器载体设置在所述培养器内并配置成载有受控温度壳体内的多个容器；荧光计，所述荧光计附接于所述培养器并包括两个或更多个通道，每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器，并且其中每个通道被配置成将光源会聚到对应于承载于所述容器载体上的容器位置的所述受控温度壳体内的检测区；荧光参考标准物，所述荧光参考标准物对应于所述荧光计的每个通道，其中每个荧光参考标准物固定于容器载体的部分；以及驱动装置，所述驱动装置被配置和控制成移动受控温度壳体内的容器载体并选择性地将承载于所述容器载体上的容器之一定位于所述荧光计的每个通道的检测区中，或将固定于容器载体的至少一种荧光参考标准物定位成与所述荧光计的其对应通道光学连通，控制器，所述控制器被配置为对于所述荧光计的每个通道，对由对应于通道的荧光参考标准物发射的荧光进行初始测量，存储初始测量，对由对应于通道的荧光参考标准物发射的荧光进行一次或多次后续测量，将每个后续测量与存储的初始测量进行比较，并且如果任何后续测量与初始测量之间的差异超过预定阈值，则激活错误警报。