[发明专利]中断响应时间的测试方法、处理器与电子设备

摘要

本申请涉及测试技术领域，提供了一种中断响应时间的测试方法、处理器与电子设备。中断响应时间的测试方法包括：屏蔽处理器对待测中断的响应后，执行预设的测试代码，并获取执行测试代码消耗的时钟周期数作为第一周期数，其中测试代码包括用于触发待测中断的触发代码；使能处理器对待测中断的响应后，执行测试代码，并在测试代码执行完毕之前，响应并处理完毕待测中断，获取执行测试代码消耗的时钟周期数作为第二周期数；计算第二周期数减去第一周期数的差值，并根据差值计算处理器对待测中断的响应时间。本申请实施例的技术方案能够计算处理器对待测中断的响应时间，衡量处理器对待测中断的处理能力。