[发明专利]一种砷离子检测方法有效
申请号: | 201910282766.6 | 申请日: | 2019-04-09 |
公开(公告)号: | CN109946255B | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 夏善红;谢勇;孙楫舟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/64 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种砷离子检测方法,包括:S1,将特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液与量子点溶液混合;S2,向混合液加入待检测样品;S3,检测步骤S2后混合液的荧光光谱或特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱;S4,根据荧光光谱的荧光强度或紫外可见光吸收光谱的吸收强度,得到砷离子的浓度。一种砷离子检测方法,包括:S101,向特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液中加入待检测样品,测得特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱;S102,向混合液加入量子点溶液后,检测混合液的荧光光谱;S103,根据紫外可见光吸收光谱的吸收强度或荧光光谱的荧光强度,得到砷离子的浓度。该方法能够提高检测的灵敏度,降低检测限。 | ||
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【主权项】:
1.一种砷离子检测方法,其特征在于,包括:S1,将特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液与量子点溶液混合,所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒吸收所述量子点激发光和发射的荧光;S2,向混合液加入待检测样品,降低所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒对所述荧光的吸收;S3,检测步骤S2后所述混合液的荧光光谱或所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱;S4,根据所述荧光光谱的荧光强度或所述紫外可见光吸收光谱的吸收强度,得到所述砷离子的浓度。
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