[发明专利]一种利用近红外光谱技术鉴别金银花产地的方法

摘要

本发明公开了一种利用近红外光谱技术鉴别金银花产地的方法，其利用近红外光谱技术采集不同地区的金银花原始光谱，采用数学方法减弱或是消除干扰因素对光谱的影响，提取有用信息，建立模型，鉴别金银花产地。本发明的方法具有快速、高效、无损、成本低、适用范围广等特点，特别是不需要对金银花进行前处理步骤，在不破坏金银花结构的情况下就可以进行产地溯源，实现无损化处理。

主权项

1.一种利用近红外光谱技术鉴别金银花产地的方法，其特征在于，包括如下步骤：1)原始光谱采集：在中国金银花主产区采集金银花样品，将光谱仪光斑区域紧贴金银花样品采集样品的原始光谱；2)原始光谱的预处理：将步骤1)获得的原始光谱数据剔除异常数据后，采用KS方法将剔除后的光谱数据分为校正集和验证集，以二阶导数和SNV的方法共同对校正集和验证集的近红外光谱数据进行处理，获得优化后的校正集样品和验证集样品的光谱数据；3)最佳主成分数的选择：使用步骤1)中获得原始光谱的数据建立金银花样品的定性分析模型获得最佳主成分数；4)构建PLS‑D A判别模型：利用步骤2)中获得的校正集样品的光谱数据并选用步骤3)中获得的主成分数来建立PLS‑D A判别模型，并使用验证集样品的光谱数据来验证模型有效性；5)将待鉴别的金银花样品进行近红外光谱的采集和特征波长的提取，通过二阶导数和SNV的方法共同对近红外光谱进行预处理，再通过导入到经过有效性验证过的模型中即可鉴别金银花产地。