[发明专利]基于准光腔微波谐振原理的光功率检测装置及方法有效
申请号: | 201910255603.9 | 申请日: | 2019-04-01 |
公开(公告)号: | CN109932057B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 李亚峰;余承勇;高冲;龙嘉威;高勇;张云鹏;李恩;郭高凤 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 甘茂 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于光功率检测领域,提供基于准光腔微波谐振原理的光功率检测装置及方法,用以克服传统光功率检测技术检测幅值范围较小、且技术和成本限制了其使用条件和应用范围的问题。本发明光功率检测装置中,采用场强集中、品质因数较高的准光学谐振腔作为光功率信号传感器装置,将检测困难的宽量程待测光功率信号转化为小量程、易观测的微波信号,再利用微波器件检测技术实现对光信号的宽量程、高精度检测;同时,该装置亦具有响应速度快、灵敏度高、测试精度高、材料成本低、设计加工简单等优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 准光腔 微波 谐振 原理 功率 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.基于准光腔微波谐振原理的光功率检测装置,包括:矢量网络分析仪、准光学谐振腔、光源、光敏材料InP、平面反射镜样品台及一维移动平台;其特征在于,所述矢量网络分析仪通过微波线缆与准光学谐振腔相连,所述平面反射镜样品台水平固定于一维移动平台上;所述光敏材料InP水平放置于平面反射镜样品台中心位置处;所述光源斜入射到光敏材料InP上、且采用光辐射功率可调光源。
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