[发明专利]环形缩距天线测试装置在审
| 申请号： | 201910197830.0 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN111693790A | 公开（公告）日： | 2020-09-22 |
| 发明（设计）人： | 张道治 | 申请（专利权）人： | 张道治 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人： | 张雅军;孙金瑞 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种环形缩距天线测试装置，包含一组环形主反射面，单组或多组辅反射面，及单组或多组讯号馈入器。主反射面为一环形反射面，其凹陷朝向环形中心轴线上。辅反射面几何形状依费马原理之波特性原理求得。如要产生多组分别由不同方向朝向环形中心轴线之平面波，可利用环形反射面上朝向环形中心轴线之不同区块，及其相对应不同讯号馈入器之位置，则其相对应之多组辅反射面几何形状可算出。本发明可在天线测试静区产生多组不同方向之入射平面波，同时供单组或多组天线在不同方向的天线辐射场型量测，且可快速量测二维及三维天线辐射场型。 | ||
| 搜索关键词： | 环形 天线 测试 装置 | ||
【主权项】：
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