[发明专利]一种提高矿物浮选复配捕收剂浮选效果的方法有效

专利信息
申请号: 201910181403.3 申请日: 2019-03-11
公开(公告)号: CN109865601B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 邓久帅;徐宏祥;孙春宝;范桂侠;寇珏;司亮;宋国君 申请(专利权)人: 郑州大学;中国矿业大学(北京)
主分类号: B03D1/018 分类号: B03D1/018;B03D1/00;B03D101/02;B03D103/02
代理公司: 昆明正原专利商标代理有限公司 53100 代理人: 金耀生
地址: 450001 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明是一种提高矿物浮选复配捕收剂浮选效果的方法。该方法包括对破碎后的原矿进行均匀取样和制样,进行XRD分析确定目的矿物种类和主要晶面,进行TEM和EBSD分析确定暴露的主要解离面,并对所得混合晶型和晶面进行DFT计算再次核定不稳定的晶面或容易暴露的晶面,对每个“同分异构”晶型的主要解离面与多种不同基团的正浮选捕收剂进行相互作用的DFT理论计算,最终确定每种“同分异构”晶型的主要解离面最适宜的基团和捕收剂种类及其大体占比,确定最终基团或捕收剂和复配比例。本发明能够使复配所筛选的药剂种类更加精准,药剂复配比率更加准确,复配效率更高,确定周期短。
搜索关键词: 一种 提高 矿物 浮选 复配捕收剂 效果 方法
【主权项】:
1.一种提高矿物浮选复配捕收剂浮选效果的方法,其特征在于按以下步骤进行:(1)对破碎后的原矿进行均匀取样和制样,制成粉末和具有光滑平整表面的小块矿,取其中3~5g进行X射线衍射分析XRD确定目的矿物种类和主要晶面,取块矿分别进行透射电子显微镜TEM和电子背散射衍射EBSD分析确定暴露的主要解离面或优势解离面;采用XRD确定的晶体类型,对目的矿物的“同分异构”的多种晶型及晶面进行密度泛函理论DFT计算,通过几何和电子结构比较每一个“同分异构”晶型的晶面的能量和空间结构特征,确定破碎和磨矿过程中最不稳定的晶面或最容易暴露的晶面,对DFT理论计算得到的优势解离面和TEM、EBSD实证分析得到的界面进行核实,最终确定每种“同分异构”晶型的主要解离面;(2)在最终确定“同分异构”晶型的主要解离面后,对每个“同分异构”晶型的主要解离面与多种不同基团的正浮选捕收剂进行相互作用的DFT理论计算,分析每个“同分异构”表面与不同基团捕收剂的吸附能、几何变化,最终确定每种“同分异构”晶型的主要解离面最适宜的基团和捕收剂和捕收剂复配比例;(3)采用粗选、精选、扫选的浮选流程,在粗选、精选阶段添加上述复配捕收剂,并添加调整剂、活化剂,最终获得提高浮选效果后的精矿。
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