[发明专利]一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法在审
申请号: | 201910134423.5 | 申请日: | 2019-02-23 |
公开(公告)号: | CN109883361A | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 黄育争;刘燚;石栋;黄飞标;霍敏 | 申请(专利权)人: | 西安昂科光电有限公司 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 710000 陕西省西安市高新*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法,采用高精度自准直仪或采用超高精度全自动内调焦自准直仪做测量头,测量时采用反射法找取单透镜或光学镜组的每个透镜表面的反射像,根据各个表面像的位置得出偏心,从而进行光学透镜组的装配和调试。本发明解决了现有仪器由于必须旋转才能进行偏心测量的测量限制和不足,本发明的特点是采用高精度气浮导轨,并配备高精度自准直仪,将测量精度提高了多个等级;测试过程中不需要用旋转装置对被测组件旋转;界面友好、功能齐全的测试软件,使测量直观化,并能直接得出测试值。 | ||
搜索关键词: | 高精度自准直仪 高精度导轨 光学组件 中心偏差 测量 测试 偏心 光学透镜组 测量限制 测试过程 测试软件 光学镜组 偏心测量 气浮导轨 透镜表面 旋转装置 自准直仪 表面像 测量头 单透镜 反射法 反射像 调焦 装配 调试 直观 配备 | ||
【主权项】:
1.一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:采用高精度自准直仪或采用超高精度全自动内调焦自准直仪做测量头,测量时采用反射法找取单透镜或光学镜组的每个透镜表面的反射像,根据各个表面像的位置得出偏心,从而进行光学透镜组的装配和调试。
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