[发明专利]一种集成SAR ADC与SD ADC的多站点测试方法有效
| 申请号： | 201910079853.1 | 申请日： | 2019-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN109831207B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 李高祥 | 申请（专利权）人： | 芯海科技（深圳）股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 | 代理人： | 孔丽霞;王海骏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用SD ADC与SAR ADC测试技术领域，提供了一种集成SAR ADC与SD ADC的多站点测试方法，该方法包括：Python通过串口对多个待测芯片的寄存器进行配置，并初始化SAR ADC和SD ADC；测量SD ADC时，Python通过串口发送指令给主控芯片配置不同的电压采集芯片，并分别对应采集多个待测芯片的基准电压；测试SAR‑ADC时，Python通过串口配置多个待测芯片的寄存器，并将多个待测芯片的基准电压均配置为V1；通过该测试方法能够方便、快捷、灵活的测试SAR ADC与SD ADC，且待测的芯片数量可以灵活扩展，且测量数据自动记录，分析并保存，以提高工作效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 sar adc sd 站点 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种集成SAR ADC与SD ADC的多站点测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：第一步，Python通过串口对多个待测芯片的寄存器进行配置，并初始化SAR ADC和SD ADC。
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