[发明专利]基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法

摘要

基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法。本发明属于光学成像技术领域。现有对弥散介质吸收散射系数分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建存在获得的测量数据少、光学参数场重建精度低的问题。本发明包括：利用具有微透镜阵列的光场相机分别获取调频激光与脉冲激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下介质内部的光学参数场的重建图像，并作为时域模型的初始的光学参数场，通过模拟脉冲激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，得到弥散介质的内部结构。利用本发明方法能完成高精度的光学参数场的重建。

主权项

1.基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置，其特征在于：所述的测量装置包括激光控制器(1)、激光头(2)、弥散介质(3)、一组微透镜阵列光场相机(4)和数据采集处理系统(7)；激光控制器(1)的一端连接激光头(2)的激光控制信号输出端，激光控制器(1)的另一端连接数据采集处理系统(7)；数据采集处理系统(7)的信号输入端同时与微透镜阵列光场相机(4)的信号输出端连接；其中，所有的微透镜阵列光场相机(4)与激光头(2)处于同一平面上，且激光头(2)、一组微透镜阵列光场相机(4)在弥散介质(3)的周围均匀分布；且所述的激光头(2)发射的激光射入弥散介质(3)时，激光头(2)发射的激光经过弥散介质(3)各边界的中心点。