[发明专利]检测精度可调的电流测试电路

摘要

本发明公开了一种电流检测精度可调的电路，包括：可编程控制器、电流精度控制电路及运算放大电路，其中，电流精度控制电路包括放大倍数控制电路和电流采样电路。放大倍数控制电路的第一端与可编程控制器的IO接口连接，其第二端与运算放大电路的第一输入端连接。电流采样电路的第一端与可编程控制器的IO接口连接，其第二端与运算放大电路的第二输入端连接。运算放大电路的输出端与可编程控制器的AD转换接口连接。本发明的有益效果：电流检测精度可调，检测精度高；可对摄像头模组在工作状态、待机状态及掉电状态时进行切换测试，且切换灵活；结构简单，电流检测范围宽，且检测效率高。

主权项

1.一种检测精度可调的电流测试电路，其特征在于，包括：可编程控制器、电流精度控制电路及运算放大电路，其中，所述电流精度控制电路包括放大倍数控制电路和电流采样电路；所述放大倍数控制电路的第一端与所述可编程控制器的IO接口连接，其第二端与所述运算放大电路的第一输入端连接；所述电流采样电路的第一端与所述可编程控制器的IO接口连接，其第二端与所述运算放大电路的第二输入端连接；所述运算放大电路的输出端与所述可编程控制器的AD转换接口连接；所述放大倍数控制电路包括：第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3；所述第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的漏极互连，所述第一MOS管Q1的源极与第一电阻R1的第一端连接，所述第二MOS管Q2的源极与第二电阻R2的第一端连接，所述第三MOS管Q3的源极与第三电阻R3的第一端连接，所述第一电阻R1、第二电阻R2及第三电阻R3的第二端互连；所述第一MOS管Q1、第二MOS管Q2及第三MOS管Q3的栅极均与所述可编程控制的IO接口连接；所述运算放大电路包括：第一运算放大器U1、第二运算放大器U2及第三运算放大器U3；所述第一运算放大器U1的反向端与所述第一MOS管Q1的漏极、第二MOS管Q2的漏极、第三MOS管Q3的漏极及第四电阻R4的第一端连接；所述第一运算放大器U1的同向端与所述电流采样电路连接；所述第一运算放大器U1的输出端与第四电阻R4的第二端及第五电阻R5的第一端连接；所述第二运算放大器U2的反向端与所述第一电阻R1的第二端、第二电阻R2的第二端、第三电阻R3的第二端及第六电阻R6的第一端连接；所述第二运算放大器U2的同向端与所述电流采样电路连接；所述第二运算放大器U2的输出端与第六电阻R6的第二端及第八电阻R8的第一端连接；所述第三运算放大器U3的反向端与第五电阻R5的第二端及第九电阻R9的第一端连接；所述第三运算放大器U3的同向端与第八电阻R8的第二端及第十电阻R10的第一端连接，所述第十电阻R10的第二端接地；所述第三运算放大器U3的输出端与所述第九电阻R9的第二端及可编程控制器的AD转换接口连接；所述电流采样电路包括：第四MOS管Q4、第五MOS管Q5、第六MOS管Q6、第七MOS管Q7、第八MOS管Q8及第九MOS管Q9；所述第四MOS管Q4、第五MOS管Q5及第六MOS管Q6的漏极互连并与待测摄像头模组的供电电源连接；所述第四MOS管Q4的源极与第七MOS管Q7的漏极及第十一电阻R11的第一端连接，所述第五MOS管Q5的源极与第八MOS管Q8的漏极及第十二电阻R12的第一端连接，所述第六MOS管Q6的源极与第九MOS管Q9的漏极及第十三电阻R13的第一端连接，所述第十一电阻R11、第十二电阻R12及第十三电阻R13的第二端均与所述第二运算放大器U2同向端连接；所述第四MOS管Q4的栅极与所述第七MOS管Q7的栅极互连，并与所述可编程控制器的IO接口连接；所述第五MOS管Q5的栅极与所述第八MOS管Q8的栅极互连，并与所述可编程控制器的IO接口连接；所述第六MOS管Q6的栅极与所述第九MOS管Q9的栅极互连，并与所述可编程控制器的IO接口连接；所述第七MOS管Q7、第八MOS管Q8及第九MOS管Q9的源极互连，并与所述第一运算放大器U1同向端连接。