[发明专利]一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法在审
| 申请号： | 201910074547.9 | 申请日： | 2019-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN109635518A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 何改云;王宏亮;桑一村;庞凯瑞;庞域 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G06F17/16;G06F17/14;G01B21/20 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 刘子文 |
| 地址： | 300350 天津市津南区海*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法，包括以下步骤：(1)利用扫描式三坐标测量机得到被测件的原始测点数据集，计算原始测点数据集内的点与被测件设计模型表面之间的偏差，并绘制偏差曲线；(2)利用小波分解将偏差曲线分解成三部分，提取出关键点；(3)根据自由曲面轮廓误差的数学模型，使用SQP算法对关键点进行定位，并优化变换矩阵T中的六个参数，获得定位关键点集；(4)用曲面分割法计算定位关键点和被测件设计模型表面之间的偏差，根据他们的最大偏差得到轮廓误差。该方法利用小波分解从偏差曲线中提取关键点来简化计算过程，再利用SQP算法对关键点进行定位并用曲面分割法计算定位关键点和模型表面之间的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 关键点 定位关键 偏差曲线 自由曲面 被测件 轮廓误差 曲面分割 扫描测量 设计模型 小波分解 点数据 轮廓度 三坐标测量机 变换矩阵 计算过程 模型表面 数学模型 最大偏差 扫描式 再利用 点集 绘制 并用 分解 优化 | ||
【主权项】：
1.一种基于CMM扫描测量的自由曲面轮廓度评价方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)利用装备有扫描式测头的三坐标测量机(CMM)测量得到被测件的原始测点数据集，计算原始测点数据集内的点与被测件设计模型表面之间的偏差，并绘制得到偏差曲线；(2)利用小波分解将上述偏差曲线分解成三部分，提取出关键点；(3)根据自由曲面轮廓误差的数学模型，使用SQP算法对关键点进行定位，并优化变换矩阵T中的六个参数，获得定位关键点集；(4)用曲面分割方法计算定位关键点和被测件设计模型表面之间的偏差，根据他们之间的最大偏差得到轮廓误差。
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