[发明专利]电路测试系统及电路测试方法有效
申请号: | 201910042985.7 | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN111443275B | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 陈莹晏;许烱发;杨嘉瑞;陈柏霖 | 申请(专利权)人: | 瑞昱半导体股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁丽超;田喜庆 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开内容涉及一种电路测试系统及电路测试方法。电路测试系统包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台,且用以接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。在扫描控制信号处于第一电平时,控制电路用以控制接口电路将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路;同时,将扫描链电路内寄存器采集到的信号位移输出给测试机台判读。在扫描控制信号处于第二电平时,控制电路用以控制接口电路将待测电路产生的响应信号传递至测试机台,并经由扫描链上的寄存器采集组合逻辑电路的运算结果。 | ||
搜索关键词: | 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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