[发明专利]电路测试系统及电路测试方法有效
| 申请号： | 201910042867.6 | 申请日： | 2019-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN111443274B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 陈莹晏;许烱发;杨嘉瑞;陈柏霖 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 梁丽超;田喜庆 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本公开内容涉及一种电路测试系统及电路测试方法。电路测试系统包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台，且用以接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。在扫描控制信号处于第一电平时，控制电路用以控制接口电路将扫描链电路导通至测试机台，以将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路。在扫描控制信号处于第二电平时，控制电路用以控制接口电路将待测电路导通至测试机台，以将待测电路产生的响应信号传递至测试机台。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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