[发明专利]一种基于空间光谱干涉的光束色散特性反演算法有效

专利信息
申请号: 201910039429.4 申请日: 2019-01-16
公开(公告)号: CN109697270B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 母杰;王逍;左言磊;周凯南;曾小明;胡必龙;蒋东镔;王晓东;粟敬钦 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G06F17/10 分类号: G06F17/10
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 张明利
地址: 621999 四川省绵*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于空间光谱干涉的光束色散特性反演算法,包括如下步骤:选取空间光谱干涉图像中两条相邻的亮条纹作为取样条纹,选取空间位置处于两条取样条纹之间的N个采样点,记录采样点的角频率ω和空间位置y,计算每个采样点的位相Φ,将角频率ω、空间位置y和位相Φ代入到位相理论表达式中,得到N个位相理论表达式,对位相理论表达式进行矩阵运算,得到表征光束色散特性的参数,本发明直接根据空间光谱干涉条纹反演光束的色散特性,原理简单直观,计算量小,仅利用少量空间光谱干涉条纹数据就可进行反演计算,同时,本发明亦适用于环境恶劣、噪声影响大、空间光谱干涉条纹易受到污染的情况。
搜索关键词: 一种 基于 空间 光谱 干涉 光束 色散 特性 反演 算法
【主权项】:
1.一种基于空间光谱干涉的光束色散特性反演算法,其特征在于,包括如下步骤:S1:对空间光谱干涉图像进行二值化处理,得到亮条纹和暗条纹;S2:选取两条相邻的亮条纹作为取样条纹,选取空间位置处于两条取样条纹之间的N个采样点,记录N个采样点的角频率ω和空间位置y;S3:计算每个采样点的位相Φ;S4:将N个采样点的角频率ω、空间位置y和位相Φ代入到位相理论表达式中,得到N个位相理论表达式,用其中1个位相理论表达式减去剩余的N‑1个位相理论表达式,得到N‑1个包含采样点位相差和光束色散特性参数的目标表达式;S5:对N‑1个目标表达式进行矩阵运算,得到表征光束色散特性的参数。
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